LFA测试金属膜

金属膜在电子领域有着广泛应用，比如电子产品的电触点、大功率电子器件的散热器。为此高导热和低热膨胀的热物性能就显得十分必要。金属材料的导热系数一般采用激光闪射法（LFA）测量。但是对于金属薄膜而言，传统的 LFA 方法并不合适，因为样品厚度太薄。使用特殊In-Plane水平导热支架则不会有样品厚度的限制。利用LFA特殊In-Plane水平模式支架可以测得金属膜水平方向的热扩散系数。由于金属薄膜的导热行为基本上可以看做是各向同性，因此也可以得到金属膜厚度方向的导热。

测试条件

温度范围：RT…300°C                                

样品厚度：0.017/0.123 mm

样品支架：In-plane水平支架                 

样品表面喷涂：石墨

测试结果

随着温度升高，金属膜的热扩散系数逐渐降低。为了检查In-Plane支架测试结果的准确性，我们使用Laminate层压支架来进行验证试验（金属膜被切成片状，旋转90°，厚度为2mm），结果偏差小于3%。说明此附件能够准确地检测高导热且厚度仅为几十微米的金属膜材料。

编译：

朱明峰

曾智强